本信息由濟南蘭光機電技術有限公司發布提供。

　　薄膜測厚儀（如Labthink C640測厚儀）是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀，專業適用于量程范圍內的薄膜、薄片、紙張、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、固體絕緣材料等各種材料的厚度精密測量。可選配自動進樣機，更加準確、高效的進行連續多點測量。

【薄膜測厚儀的機械接觸式工作原理】

　　薄膜測厚儀的機械接觸式工作原理主要是通過物理接觸的方式實現對薄膜材料厚度的測量。其核心在于利用一個高精度探針（或感應頭、觸點系統），在受控力的作用下輕輕接觸待測薄膜表面，并穿透至基材或另一層薄膜表面。通過監測探針（或感應頭）位移的變化，結合探針（或感應頭）的幾何形狀和材料屬性，以及電路的開關時間和對應的電壓信號，可以計算出薄膜的厚度。

　　Labthink C640機械接觸式薄膜測厚儀，選用超高精度的位移傳感器，通過位移傳感器來測試薄膜材料的厚度。當測量頭以一定的壓力落在試樣上時，與測量頭一體的傳感器會自動檢測出上下測量面之間的距離，該距離即為薄型試樣的厚度。

【薄膜測厚儀的具體使用方法】

選擇合適的測量頭：根據待測薄膜材料的性質選擇適合的探針和測量參數。

檢查儀器狀態：確保儀器各部件完好無損，機械裝置運行正常。

清潔表面：去除待測薄膜表面可能影響測量結果的雜質或污垢。

校準儀器：使用標準樣品對儀器進行校準，以保證測量結果的準確性。

放置薄膜：將待測薄膜平整地放置在測量臺上，確保與測量頭準確對齊。

啟動測量：操作人員啟動儀器，使探針（或測量頭）在精確控制的力作用下接觸薄膜表面。此時，儀器的測量頭落在設備砧板上，傳感器讀取測量頭的初始位移值。測量頭抬起后，再將試樣放置在砧板紙上，測量頭再次落下，傳感器讀取新的位移值。兩次位移值之差即為試樣的厚度值。

讀取結果：測量完成后，測厚儀的顯示屏上會顯示出測量的厚度值。記錄測量結果，包括測量點的位置、日期和時間，以及任何可能影響測量精度的因素。

數據分析：對測量結果進行數字化處理，分析薄膜的均勻性和一致性。

　　綜上所述，薄膜測厚儀的機械接觸式工作原理簡單明了，操作方法也相對便捷。通過正確使用薄膜測厚儀，可以實現對薄膜材料厚度的精確測量，為生產過程中的質量控制提供有力支持。在薄膜測厚儀的日常操作和使用過程中，如遇到任何儀器問題，均可直接聯系廠家售后技術人員，獲取及時、專業的技術支持。